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主题

传感与测量

MEMS、信号调理、校准与全生命周期漂移。

3 论文

论文精选
消费级 MEMS IMU 在 500 次热循环后的零偏漂移
2025A. Rahimi, P. Okafor

数据手册中的零偏稳定性指标是在室温下用全新器件测得的,而工业设备的老化过程并非如此。我们将来自四家厂商的四十只六轴 IMU 在 −40 °C 至 +85 °C 之间循环 500 次,每 100 次后重新表征零偏、标度因数与交叉轴灵敏度。陀螺仪零偏的劣化速度比加速度计通道快三到十一倍,且厂商排名在第 200 次循环后发生变化——因此基于全新器件数据做出的选型,可能在现场服役一年内就已失效。

论文
低照度 CMOS 图像传感器的可复现基准测试
2024Wei Zhang, K. Almeida

厂商的低照度宣称之间不可比较,因为光源、曝光与降噪环节各不相同。我们定义了固定的测试场景、光源光谱与 RAW 采集流程,并公布十一款传感器的结果,使这些数字可被复现而非仅凭信任。附录给出参考标板的尺寸,任何实验室均可自行制作。

光电子传感与测量2024年1月12日