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消费级 MEMS IMU 在 500 次热循环后的零偏漂移
2025A. Rahimi, P. Okafor

数据手册中的零偏稳定性指标是在室温下用全新器件测得的,而工业设备的老化过程并非如此。我们将来自四家厂商的四十只六轴 IMU 在 −40 °C 至 +85 °C 之间循环 500 次,每 100 次后重新表征零偏、标度因数与交叉轴灵敏度。陀螺仪零偏的劣化速度比加速度计通道快三到十一倍,且厂商排名在第 200 次循环后发生变化——因此基于全新器件数据做出的选型,可能在现场服役一年内就已失效。

论文精选
650 V 氮化镓半桥中的门极回路电感与振铃
2025L. Haddad, M. Sorensen, Wei Zhang

版图引入的门极回路电感仍是快速氮化镓半桥误导通的首要原因。我们在 3 nH 至 21 nH 的回路范围内测量了十六个板级版本,结果表明在驱动器灌电流阻抗起主导作用之前,过冲几乎与回路电感呈线性关系。文中给出了一条实用的版图规则,以及在不扰动被测回路的前提下进行验证所需的测量夹具。

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