论文2025发表于 2025年4月9日
消费级 MEMS IMU 在 500 次热循环后的零偏漂移
作者
- A. Rahimi — Sharif University of Technology
- P. Okafor — Jiccore Applications Lab
摘要
数据手册中的零偏稳定性指标是在室温下用全新器件测得的，而工业设备的老化过程并非如此。我们将来自四家厂商的四十只六轴 IMU 在 −40 °C 至 +85 °C 之间循环 500 次，每 100 次后重新表征零偏、标度因数与交叉轴灵敏度。陀螺仪零偏的劣化速度比加速度计通道快三到十一倍，且厂商排名在第 200 次循环后发生变化——因此基于全新器件数据做出的选型，可能在现场服役一年内就已失效。