مقاله2025انتشار 9 آوریل 2025
رانش بایاس در IMUهای MEMS مصرفی پس از ۵۰۰ چرخهٔ حرارتی
نویسندگان
- A. Rahimi — Sharif University of Technology
- P. Okafor — Jiccore Applications Lab
چکیده
ارقام پایداری بایاس در برگهٔ داده در دمای اتاق و روی قطعات نو اعلام میشود، حال آنکه تجهیزات صنعتی اینگونه پیر نمیشوند. چهل IMU ششمحوره از چهار سازنده را ۵۰۰ چرخه میان منفی ۴۰ تا مثبت ۸۵ درجهٔ سلسیوس چرخاندیم و پس از هر ۱۰۰ چرخه بایاس، ضریب مقیاس و حساسیت میانمحوری را دوباره مشخصهیابی کردیم. بایاس ژیروسکوپ سه تا یازده برابر سریعتر از کانال شتابسنج افت کرد و رتبهبندی سازندگان پس از چرخهٔ ۲۰۰ تغییر کرد، پس گزینشی که بر پایهٔ دادهٔ قطعهٔ نو انجام شود، میتواند ظرف یک سال کار میدانی نادرست از آب درآید.